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產(chǎn)品中心

當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心電力通訊測速表BX-Y1228半自動觸屏四探針測試儀

半自動觸屏四探針測試儀
產(chǎn)品簡介:

半自動觸屏四探針測試儀方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對測試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式,同一位置的重復(fù)測試或多點的面電阻測量,報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

產(chǎn)品型號:BX-Y1228

更新時間:2024-05-15

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問量:1436

服務(wù)熱線

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產(chǎn)品介紹

關(guān)鍵詞:

四探針測試儀   數(shù)字四探針測試儀   探針測試機   雙電測四探針測試儀   半自動四偵針測試儀

Y1228.png

產(chǎn)品用途:半自動觸屏四探針測試儀

四點探針標(biāo)準(zhǔn)測試方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對測試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式,同一位置的重復(fù)測試或多點的面電阻測量,報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

儀器特點:半自動觸屏四探針測試儀

晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量;選擇性發(fā)射極擴散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結(jié)擴散片;新型電極設(shè)計,如電鍍銅電阻測量等;半導(dǎo)體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽能電池,LCD,OLED,觸摸屏.

技術(shù)參數(shù):

規(guī)格型號

BX-Y1228

1.電阻

10^-5~2×10^5Ω

2.方塊電阻

10^-5~2×10^5Ω/□

3.電阻率

10^-6~2×10^6Ω-cm

4.測試電流

0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100mA

5.電流精度

±0.1%

6.電阻精度

≤0.3%

7.PC軟件操作

PC軟件界面:電阻、電阻率、電導(dǎo)率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、數(shù)據(jù)管理分析:過程數(shù)據(jù),大、小值,均值,方差,變異系數(shù),樣品編號,測試點數(shù)統(tǒng)計報表生成

8.探針范圍選購

探針壓力為100-550g;依據(jù)樣品接觸需要手動調(diào)節(jié)

9.探

針間絕緣電阻:≥1000MΩ;機械游移率:≤0.3%

圓頭鍍金材質(zhì),探針間距1mm;2mm;3mm選配,其他規(guī)格可定制

10.可測晶片

尺寸選購

晶圓尺寸:2-12寸6寸150mm,12寸300mm);

方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm

11.分析模式

自動或手動單點模式

12.加壓方式

測量重復(fù)性:重復(fù)性3

13.防護(hù)功能

具有限位量程和壓力保護(hù);誤操作和急停防護(hù);異常警報

14.測試環(huán)境

實驗室環(huán)境

15.電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<100W

16.選購項目

電腦和打印機


 

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