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產(chǎn)品中心

當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心化工實(shí)驗(yàn)設(shè)備·電熱產(chǎn)品系列HG07-TH2684A高精度臺(tái)式絕緣電阻測(cè)試儀

高精度臺(tái)式絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品簡介:

高精度臺(tái)式絕緣電阻測(cè)試儀
320*240大屏幕的LCD顯示,讓...
高速測(cè)量: 100ms
針對(duì)容性器件的接觸檢查功能
超低漏電流測(cè)試:Z低到10pA,精度

產(chǎn)品型號(hào):HG07-TH2684A

更新時(shí)間:2024-05-23

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問量:984

服務(wù)熱線

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產(chǎn)品介紹

絕緣電阻測(cè)試儀  電阻測(cè)試儀  高量程電阻測(cè)試儀

型號(hào):HG07-TH2684A

性能特點(diǎn) 

 320*240大屏幕的LCD顯示,讓...
 高速測(cè)量: 100ms 
 針對(duì)容性器件的接觸檢查功能 
 超低漏電流測(cè)試:zui低到10pA,精度...
 在電流小于10nA時(shí),可切換輸入內(nèi)阻...
 7擋量程或自動(dòng)量程 
 可編程設(shè)置的順序測(cè)試模式 
 儀器參數(shù)自動(dòng)保存 
 通過U盤自動(dòng)升級(jí)系統(tǒng)固件 
 Handler接口用于可實(shí)現(xiàn)聯(lián)機(jī)操作...
 支持掃描接口,為用戶的大批量測(cè)試提供...
 
 強(qiáng)勁的充電功能 
 高測(cè)量精度:±2%至1TΩ 
 10kΩ – 100TΩ 
 10V - 1000V,單路輸出 
 充電電流:2 、 25 、 100m...
 4個(gè)可編程限定的檔比較功能 
 配有電阻R – 時(shí)間T 或 電流I ...
 屏幕信息快存于U盤 (COPY鍵) 
 中英文可選操作界面 
 RS232C、USB Device實(shí)...


 

 

簡要說明 
 

 HG07-TH2684A型高精度臺(tái)式絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件,介質(zhì)材料,設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量儀器。采用大尺寸的液晶,人性化的菜單布局,使用戶可更方便的操作儀器。 該款儀器特別適用于電容測(cè)試系統(tǒng)。 HG07-TH2684A可實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試。為實(shí)現(xiàn)快速,采取了如下措施, 1.可選的輸入內(nèi)阻:大于10nA固定使用10k低輸入阻抗,小于10nA可選用1M內(nèi)阻測(cè)試電流。 HG07-TH2684A充電階段支持輸出高達(dá)1000V,100mA, 能保證容性材料的快速充電。 HG07-TH2684A可由用戶自行編程測(cè)試步驟,zui多可達(dá)18步。例如可編程充電,等待,測(cè)試,放電等。每個(gè)步驟zui長可持續(xù)100S。 HG07-TH2684A*的接觸檢查功能,對(duì)于電容和電纜等一樣的容性材料,接觸檢查功能能很好地判讀器件有沒接觸好,較少錯(cuò)誤測(cè)試的發(fā)生,另外接觸檢查不會(huì)增加任何測(cè)試時(shí)間。 HG07-TH2684標(biāo)配RS232,USBDEVICE,掃描口,Handler等接口。其中Handler接口為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了方便。掃描口,則為大量元器件的測(cè)試提供了方便,用戶可以配一臺(tái)掃描儀來加快元器件的測(cè)試。

產(chǎn)品型號(hào):HG07-TH2684A
高精度臺(tái)式絕緣電阻測(cè)試儀
量程方式自動(dòng), 保持
分選四檔:(三檔合格,一檔不合格)
平均次數(shù)1-100
電阻測(cè)試
范圍
精度
 10 kΩ– 100TΩ
 I > 100pA: 2%
I ≤ 100 pA: 精度基本等于電流測(cè)試的精度。
存儲(chǔ)器可保存20組儀器設(shè)定值
測(cè)試電壓
范圍
精度
源電阻
電流限制
開關(guān)
定時(shí)
可編程的測(cè)量延時(shí)
放電時(shí)間
 10 – 1000V,1V步進(jìn)
 2% ,或 ± 1V
 200Ω
 2, 25 ,或100mA
 在前面板上手動(dòng)打開或關(guān)閉,或通過內(nèi)置的定時(shí)器控制,或遠(yuǎn)控
 可編程的快速充電時(shí)間:0 - 1000s
 0 -1000s
 t = 0.03 x Cx (in μF) ,電壓跌到測(cè)試電平的1%
測(cè)量電流
范圍
精度
 量程1 :100uA – 1mA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程2 :10uA – 100uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ, 量程3 :1uA – 10uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程4 :100nA – 1uA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ, 量程5 :10nA – 100nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ
量程6 :1nA – 10nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ或 1MΩ (可選), 量程7 :10pA – 1nA ; 輸入內(nèi)阻 10 kΩ或 1MΩ(可選)
 2% ± 1pA
測(cè)試速度
觸發(fā)模式
連續(xù)模式
 一次測(cè)量: < 100ms(包括充電)
平均zui多100次測(cè)量:<100 + (N-1) x 100 ms (包含充電)
 直接讀出: 100ms – 10000ms按照平均數(shù)
接口GPIB, (選件)
RS232C,SCPI命令編程支持
HANDLER接口輸出,, USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support),
USBHOST(FAT16 and FAT32 ),
掃描接口

 

高精度臺(tái)式絕緣電阻測(cè)試儀

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