原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過(guò)掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描，探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。

產(chǎn)品型號(hào)：HG13- NanoFirst-2000

更新時(shí)間：2024-05-23

廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家

訪(fǎng)問(wèn)量：1255

服務(wù)熱線(xiàn)

15313095671

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產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

化工實(shí)驗(yàn)設(shè)備

微波消解儀常用儀器蒸氣壓測(cè)定儀真空干燥箱低溫專(zhuān)用人體測(cè)溫儀搖床量熱儀培養(yǎng)箱系列振蕩器系列攪拌器系列水浴鍋系列離心機(jī)系列 ·粉碎機(jī)系列 ·電熱產(chǎn)品系列 ·養(yǎng)護(hù)箱系列 ·試驗(yàn)箱 ·粉體測(cè)試儀器 ·天平系列 ·比重計(jì)系列 ·顯微鏡系列 ·過(guò)濾器系列 ·臭氧系列 ·發(fā)酵培養(yǎng)產(chǎn)品 ·細(xì)胞分離破碎產(chǎn)品真空過(guò)濾產(chǎn)品 ·滅菌和接種產(chǎn)品 ·生物凍存轉(zhuǎn)運(yùn)設(shè)備 ·清洗機(jī)系列 ·溫度計(jì)系列 ·壓力計(jì)系列電升溫導(dǎo)熱油爐 ·離心泵系列

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產(chǎn)品介紹

原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡

型號(hào)：HG13- NanoFirst-2000

產(chǎn)品介紹：

原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過(guò)掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描，探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光，zui后接受信號(hào)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀(guān)。
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近，保證實(shí)驗(yàn)圓滿(mǎn)成功。
深度陡度測(cè)量，三維顯示。
納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域．
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡
樣品觀(guān)測(cè)范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術(shù)指標(biāo):
AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標(biāo))
XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識(shí)別
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀(guān)察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購(gòu)）